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計測と制御 Vol. 45, No. 2 目次
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特集「ナノテクノロジーのための計測技術」
［総 論］ ナノテクノロジーの現状と展望
水谷 亘(産総研)
［解 説］ 周波数検出方式原子間力顕微鏡の超高分解能化とフォーススペクトロスコピー
阿部 真之，森田 清三(大阪大)
［解 説］ 高速ビデオレートAFM
安藤 敏夫，古寺 哲幸(金沢大)
［解 説］ 近接場光を用いた計測技術とその応用
鶴岡 徹(物質・材料機構)
［解 説］ ナノテクノロジーのための計量標準の開発状況
小島 勇夫(産総研)
［解 説］ DNAの極微可視化技術
河原 敏男，田中 裕行，川合 知二(大阪大)
［解 説］ ULSI開発に不可欠なナノレベル分析・評価技術
上田 修(富士通研)
［解 説］ 走査型マルチプローブ顕微鏡による単一ナノワイヤーの電気特性評価
中山 知信(物質・材料機構)
［解 説］ カーボンナノチューブの伝導特性とプローブ応用
松本 和彦(大阪大)
［事例紹介］ 高輝度放射光を使った材料評価
古宮 聰(高輝度光科学センタ)
［事例紹介］ SPMによる表面の計測と加工
佐藤 智重(日本電子)，末吉 孝(日本電子データム)，北村 真一(日本電子)
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［リレー解説］ むだ時間システムの制御−入門から最新動向まで 第4回：むだ時間系のロバスト安定性と制御
安田 一則(和歌山大)，西平 直史(山形大)
［書 評］ 「制御と学習の人間科学」(齋藤正男 著)
木村 元(九州大)
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