演題：「製造ラインでの外観欠陥検出技術」
講演者：秦 清治（香川大学工学部教授）
略歴：
１９７１年６月 東京大学工学部卒
１９７１年７月 日立製作所入社、生産技術研究所配属
１９９１年１月 香川大学教育学部、助教授
１９９２年４月 同上、教授
１９９７年１０月 香川大学工学部、教授
２００２年４月 香川大学地域開発協同研究センター長（併任）
講演概要：生産ラインにおける品質を維持し、製品歩留まりを向上する目的で、外観検査システムが広く導入されている。本講演では、現在の外観検査の状況を概観し、特に以下の点について詳しく述べる。
１）パターン外観検査の技術開発の状況
２）３次元画像計測技術の状況
講演の後、技術相談を実施する。
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