計測と制御 2006年2月号
VOL. 45, 2006
特集「ナノテクノロジーのための計測技術」
ナノテクノロジー技術の進展とともに, エレクトロニクス分野やメカトロニクス分野においては 原子レベルで制御された材料・デバイスの構築が試みられている. これらの技術においては,同時にナノスケールでの計測・制御技術が不可欠である. 本特集では,ナノテクノロジーのための計測・制御技術と今後の展望を紹介する.
⇒ 目次
☝ 学会誌「計測と制御」に戻る
|
☜ 前号へ
|
次号へ ☞
Copyright © 2000-2006
(社)計測自動制御学会